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  • 公司名称富泰微科学仪器(上海)有限公司
  • 品       牌
  • 型       号
  • 所  在  地上海市
  • 厂商性质其他
  • 更新时间2024/6/17 12:06:49
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富泰微科学仪器(上海)有限公司总部坐落于上海,在江苏设立办事处。富泰微专注纳米级微观光学仪器研发,销售以及售后服务。主要产品包括:SEM扫描电子显微镜、AFM原子力显微镜、TEM透射电子显微镜、FIB聚焦离子束显微镜、共聚焦显微镜、浩视3D显微镜、ZYGO白光干涉仪、ZYGO激光干涉仪、台阶膜厚仪等纳米级光学测量仪器。 公司拥有专业化的管理团队和完善的管理体系,内部建立了完善的服务平台。从产品售前到售后服务都能进行全程的跟踪与管控。公司拥有多年行业管理和销售经验,在细分行业中,得到行业中客户及同行业的高度认可。 我司产品被广泛应用于化工、电子、半导体、材料、生物技术、食品以及政府单位和高校科研院所等领域。
离子研磨仪
产品介绍 追求理想的三维结构分析 通过自动重复使用FIB制备截面和进行SEM观察,采集一系列连续截面图像,并重构特定微区的三维结构。 采用的镜筒布局,从材料、设备到生物组织——在宽广的领域范围内实现传统机型难以企及的高精度三维结构分析。
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高精度实时三维分析FIB-SEM三束系统 NX9000.jpg




产品介绍:


追求理想的三维结构分析

通过自动重复使用FIB制备截面和进行SEM观察,采集一系列连续截面图像,并重构特定微区的三维结构。

采用的镜筒布局,从材料、设备到生物组织——在宽广的领域范围内实现传统机型难以企及的高精度三维结构分析。

产品特点:


1、SEM镜筒与FIB镜筒互成直角,形成三维结构分析的镜筒布局


  • 2、融合高亮度冷场发射电子枪与高灵敏度检测系统,从磁性材料到生物组织——支持分析各种样品


  • 3、通过选配口碑良好的Micro-sampling®系统*和Triple Beam®系统*,可支持制作高品质TEM及原子探针样品

垂直入射截面SEM观察可忠实反映原始样品结构


SEM镜筒与FIB镜筒互成直角,实现FIB加工截面的垂直入射SEM观察。


旧型FIB-SEM采用倾斜截面观察方式,必定导致截面SEM图像变形及采集连续图像时偏离视野,直角型结构可避免出现此类问题。


通过稳定获得忠实反映原始结构的图像,实现高精度三维结构分析。


同时,FIB加工截面(SEM观察截面)与样品表面平行,有利于与光学显微镜图像等数据建立链接。


样品:小白鼠脑神经细胞


Cut&See/3D-EDS*1/3D-EBSD*1可支持各种材料


Cut&See


从生物组织及半导体到钢铁及镍等磁性材料——支持低加速电压下的高分辨率和高对比度观察。


FIB加工与SEM观察之间切换时,不需要重新设定条件,可高效率的采集截面的连续图像


样品:镍
SEM加速电压:1 kV
加工间距:20 nm
重复次数:675次


3D-EDS *1

不仅支持截面SEM图像,也支持连续采集一系列截面的元素分布图像。
通过选配硅漂移式大立体角EDS检测器
*1 ,可缩短测定时间以及可在低加速电压下采集元素分布图像。

样品:燃料电池电极
SEM加速电压:5 kV
加工间距:100 nm
重复次数:212次

3D-EBSD *1

以的方式配置SEM/FIB/EBSD检测器 *1 ,在FIB加工与EBSD分析之间无需移动样品台即可实现3D-EBSD。因为无需移动样品台,所以可大幅提高三维晶体取向分析的精度和效率。

样品:镍
SEM加速电压:20 kV
加工间距:150 nm
重复次数:150次


产品规格:


项目 内容
SEM 电子源 冷场场发射型
加速电压 0.1 ~ 30 kV
分辨率 2.1 nm@1 kV
1.6 nm@15 kV
FIB 离子源
加速电压 0.5 ~ 30 kV
分辨率 4.0 nm@30 kV
束流 100 nA
标准探测器 In-colum二次电子探测器/In-colum背散射电子探测器/
样品室二次电子探测器
样品台 X 0 ~ 20 mm *2
Y 0 ~ 20 mm *2
Z 0 ~ 20 mm *2
θ 0 ~ 360° *2
τ -25 ~ 45° *2
样品尺寸 正方形边长6 mm × 厚度2 mm


*² :根据样品座不同,行程不同



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