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工控摘要：日前，在2014年匹兹堡分析化学及实验室展上，德州仪器（TI）推出为支持近红外光（NIR）的使用而优化的DLP®芯片组DLP4500NIR以及相对应的DLPNIRscan™评估模块（EVM）。

IbsenPhotonics总裁兼执行官HenrikSkovAndersen表示：“将DLP技术应用到我们众多OEM光谱仪中，是对传统光谱分析的一次革命。通过采用DLP技术，我们的、可编程的紧凑型多色仪可允许预先选择多个波长的色散，在VIS-NIR范围中使用经济的宽带探测器实现高速透射或吸收测定。这一特性将使客户能生成动态的测量方案和算法，为关键应用赢得速度和准确性，同时保护样片远离不必要的照射。”

DLP嵌入式产品事业部MariquitaGordon表示：“我们一直在不断突破DLP技术的极限，开创其在*的科学、工业和医疗解决方案中的应用。通过采用这款全新的近红外DLP芯片组，光谱仪器设计师可开发出全新的移动设备，将在实验室中才能实现的灵敏度和性应用于现场应用，同时还可降低整个系统成本。”

据悉，通过采用DLP技术，应用于食品、制药、石油、天然气以及新兴产业的光谱仪，能够在现场和生产线上提供等同于实验室质量的性能表现。